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551 Suchergebnisse
Norm [AKTUELL] 2013-10
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Oberflächenanalyse von Silicium-Halbleiterscheiben (Wafer) durch Multielementbestimmung in wässrigen Analysenlösungen mittels Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS)
Dieses Dokument legt ein Verfahren zur Bestimmung der Massenanteile der Elemente Al (Aluminium), As (Arsen), Ba (Barium), Be (Beryllium), Ca (Calcium), Cd (Cadmium), Co (Kobalt), Cr (Chrom), Cu ...
ab 74,80 EUR inkl. MwSt.
ab 69,91 EUR exkl. MwSt.
Norm [AKTUELL] 2018-04
Halbleiterbauelemente - Teil 16-3: Integrierte Schaltungen zur Frequenzumsetzung von Mikrowellen (IEC 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017); Deutsche Fassung EN 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017
Dieser Teil von IEC 60747 liefert sowohl neue Messverfahren, die Terminologie und Buchstabensymbole als auch wesentliche Bemessungswerte und Eigenschaften für integrierte Schaltungen zur ...
ab 155,30 EUR inkl. MwSt.
ab 145,14 EUR exkl. MwSt.
Norm [AKTUELL] 2005-03
Halbleiterbauelemente - Teil 16-10: Prüfplan für die Technikanerkennung (Technology Approval Schedule - TAS) für monolithische integrierte Mikrowellenschaltkreise (IEC 60747-16-10:2004); Deutsche Fassung EN 60747-16-10:2004
Norm [AKTUELL] 1994-09
IEC-821-VMEbus - Mikroprozessor-Systembus für 1 Byte bis 4 Byte Daten (IEC 60821:1991, modifiziert); Deutsche Fassung EN 60821:1994
ab 337,50 EUR inkl. MwSt.
ab 315,42 EUR exkl. MwSt.
Norm [AKTUELL] 2002-10
Berechnung von Verzögerung und Leistungsaufnahme beim Entwurf von Chips - Teil 1: System zur Berechnung von Verzögerung und Leistungsaufnahme integrierter Schaltkreise (IC) (IEC 61523-1:2001); Deutsche Fassung EN 61523-1:2002, Text in Englisch
ab 366,20 EUR inkl. MwSt.
ab 342,24 EUR exkl. MwSt.
Norm [AKTUELL] 2003-06
Berechnung von Verzögerung und Leistungsaufnahme beim Entwurf von Chips - Teil 2: Vorgezogene Berechnung der Verzögerung für CMOS-ASIC-Bibliotheken (IEC 61523-2:2002); Deutsche Fassung EN 61523-2:2002, Text in Englisch
ab 124,80 EUR inkl. MwSt.
ab 116,64 EUR exkl. MwSt.
Norm [AKTUELL] 2001-10
Integrierte Schaltkreise - Anwendungsleitfaden für die Anerkennung von Fertigungslinien (IEC 61943:1999); Deutsche Fassung EN 61943:1999
ab 105,20 EUR inkl. MwSt.
ab 98,32 EUR exkl. MwSt.
Norm [AKTUELL] 2000-01
Integrierte Schaltungen - Kontaktanordnungen für Speicherbauelemente (IEC 61964:1999); Deutsche Fassung EN 61964:1999
ab 90,50 EUR inkl. MwSt.
ab 84,58 EUR exkl. MwSt.
Norm [AKTUELL] 2019-09
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Definitionen (IEC 61967-1:2018); Deutsche Fassung EN IEC 61967-1:2019
Hochfrequente Aussendungen integrierter Schaltungen können zur Beeinflussung der immer empfindlicher werdenden elektronischen Bauteile und Systeme, zu Fehlfunktionen oder deren Ausfällen führen.
79,96 EUR inkl. MwSt.
74,73 EUR exkl. MwSt.
Norm [AKTUELL] 2006-03
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 2: Messung der abgestrahlten Aussendungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 61967-2:2005); Deutsche Fassung EN 61967-2:2005
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