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Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Oberflächenanalyse von Silicium-Halbleiterscheiben (Wafer) durch Multielementbestimmung in wässrigen Analysenlösungen mittels Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS)

Norm [AKTUELL] 2013-10

DIN 51456:2013-10

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Oberflächenanalyse von Silicium-Halbleiterscheiben (Wafer) durch Multielementbestimmung in wässrigen Analysenlösungen mittels Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS)

Dieses Dokument legt ein Verfahren zur Bestimmung der Massenanteile der Elemente Al (Aluminium), As (Arsen), Ba (Barium), Be (Beryllium), Ca (Calcium), Cd (Cadmium), Co (Kobalt), Cr (Chrom), Cu ...

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ab 67,85 EUR exkl. MwSt.

Halbleiterbauelemente - Teil 16-3: Integrierte Schaltungen zur Frequenzumsetzung von Mikrowellen (IEC 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017); Deutsche Fassung EN 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017

Norm [AKTUELL] 2018-04

DIN EN 60747-16-3:2018-04

Halbleiterbauelemente - Teil 16-3: Integrierte Schaltungen zur Frequenzumsetzung von Mikrowellen (IEC 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017); Deutsche Fassung EN 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017

Dieser Teil von IEC 60747 liefert sowohl neue Messverfahren, die Terminologie und Buchstabensymbole als auch wesentliche Bemessungswerte und Eigenschaften für integrierte Schaltungen zur ...

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ab 140,93 EUR exkl. MwSt.

Halbleiterbauelemente - Teil 16-10: Prüfplan für die Technikanerkennung (Technology Approval Schedule - TAS) für monolithische integrierte Mikrowellenschaltkreise (IEC 60747-16-10:2004); Deutsche Fassung EN 60747-16-10:2004

Norm [AKTUELL] 2005-03

DIN EN 60747-16-10:2005-03

Halbleiterbauelemente - Teil 16-10: Prüfplan für die Technikanerkennung (Technology Approval Schedule - TAS) für monolithische integrierte Mikrowellenschaltkreise (IEC 60747-16-10:2004); Deutsche Fassung EN 60747-16-10:2004

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IEC-821-VMEbus - Mikroprozessor-Systembus für 1 Byte bis 4 Byte Daten (IEC 60821:1991, modifiziert); Deutsche Fassung EN 60821:1994

Norm [AKTUELL] 1994-09

DIN EN 60821:1994-09

IEC-821-VMEbus - Mikroprozessor-Systembus für 1 Byte bis 4 Byte Daten (IEC 60821:1991, modifiziert); Deutsche Fassung EN 60821:1994

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Berechnung von Verzögerung und Leistungsaufnahme beim Entwurf von Chips - Teil 1: System zur Berechnung von Verzögerung und Leistungsaufnahme integrierter Schaltkreise (IC) (IEC 61523-1:2001); Deutsche Fassung EN 61523-1:2002, Text in Englisch

Norm [AKTUELL] 2002-10

DIN EN 61523-1:2002-10

Berechnung von Verzögerung und Leistungsaufnahme beim Entwurf von Chips - Teil 1: System zur Berechnung von Verzögerung und Leistungsaufnahme integrierter Schaltkreise (IC) (IEC 61523-1:2001); Deutsche Fassung EN 61523-1:2002, Text in Englisch

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ab 332,24 EUR exkl. MwSt.

Berechnung von Verzögerung und Leistungsaufnahme beim Entwurf von Chips - Teil 2: Vorgezogene Berechnung der Verzögerung für CMOS-ASIC-Bibliotheken (IEC 61523-2:2002); Deutsche Fassung EN 61523-2:2002, Text in Englisch

Norm [AKTUELL] 2003-06

DIN EN 61523-2:2003-06

Berechnung von Verzögerung und Leistungsaufnahme beim Entwurf von Chips - Teil 2: Vorgezogene Berechnung der Verzögerung für CMOS-ASIC-Bibliotheken (IEC 61523-2:2002); Deutsche Fassung EN 61523-2:2002, Text in Englisch

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Integrierte Schaltkreise - Anwendungsleitfaden für die Anerkennung von Fertigungslinien (IEC 61943:1999); Deutsche Fassung EN 61943:1999

Norm [AKTUELL] 2001-10

DIN EN 61943:2001-10

Integrierte Schaltkreise - Anwendungsleitfaden für die Anerkennung von Fertigungslinien (IEC 61943:1999); Deutsche Fassung EN 61943:1999

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Integrierte Schaltungen - Kontaktanordnungen für Speicherbauelemente (IEC 61964:1999); Deutsche Fassung EN 61964:1999

Norm [AKTUELL] 2000-01

DIN EN 61964:2000-01

Integrierte Schaltungen - Kontaktanordnungen für Speicherbauelemente (IEC 61964:1999); Deutsche Fassung EN 61964:1999

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ab 82,15 EUR exkl. MwSt.

Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Definitionen (IEC 61967-1:2018); Deutsche Fassung EN IEC 61967-1:2019

Norm [AKTUELL] 2019-09

DIN EN IEC 61967-1:2019-09; VDE 0847-21-1:2019-09

Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Definitionen (IEC 61967-1:2018); Deutsche Fassung EN IEC 61967-1:2019

Hochfrequente Aussendungen integrierter Schaltungen können zur Beeinflussung der immer empfindlicher werdenden elektronischen Bauteile und Systeme, zu Fehlfunktionen oder deren Ausfällen führen.

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Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 2: Messung der abgestrahlten Aussendungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 61967-2:2005); Deutsche Fassung EN 61967-2:2005

Norm [AKTUELL] 2006-03

DIN EN 61967-2:2006-03

Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 2: Messung der abgestrahlten Aussendungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 61967-2:2005); Deutsche Fassung EN 61967-2:2005

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Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 4: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Messung mit direkter 1-Ohm-/150-Ohm-Kopplung (IEC 61967-4:2021); Deutsche Fassung EN IEC 61967-4:2021

Norm [AKTUELL] 2023-08

DIN EN IEC 61967-4:2023-08; VDE 0847-21-4:2023-08

Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 4: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Messung mit direkter 1-Ohm-/150-Ohm-Kopplung (IEC 61967-4:2021); Deutsche Fassung EN IEC 61967-4:2021

Dieser Teil von IEC 61967 legt ein Verfahren zur Messung der leitungsgeführten elektromagnetischen Aussendung (EME, electromagnetic emission) von integrierten Schaltungen durch direkte Messung des ...

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Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 5: Messung der leitungsgeführten Aussendungen; Verfahren mit Faradayschem Käfig für Messtische (IEC 61967-5:2003); Deutsche Fassung EN 61967-5:2003

Norm [AKTUELL] 2003-10

DIN EN 61967-5:2003-10

Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 5: Messung der leitungsgeführten Aussendungen; Verfahren mit Faradayschem Käfig für Messtische (IEC 61967-5:2003); Deutsche Fassung EN 61967-5:2003

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Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 6: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Magnetsondenverfahren (IEC 61967-6:2002 + A1:2008); Deutsche Fassung EN 61967-6:2002 + A1:2008

Norm [AKTUELL] 2008-10

DIN EN 61967-6:2008-10

Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 6: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Magnetsondenverfahren (IEC 61967-6:2002 + A1:2008); Deutsche Fassung EN 61967-6:2002 + A1:2008

Diese Norm legt ein Verfahren zur Bestimmung von HF-Strömen an den Anschlusspins einer integrierten Schaltung (IC) durch berührungslose Strommessung mit einer Miniaturmagnetsonde fest. Mit diesem ...

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Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 6: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Magnetsondenverfahren (IEC 61967-6:2002 + A1:2008); Deutsche Fassung EN 61967-6:2002 + A1:2008, Berichtigung zu DIN EN 61967-6:2008-10; (IEC-Cor. :2010 zu IEC 61967-6:2002)

Norm [AKTUELL] 2011-02

DIN EN 61967-6 Berichtigung 1:2011-02

Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 6: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Magnetsondenverfahren (IEC 61967-6:2002 + A1:2008); Deutsche Fassung EN 61967-6:2002 + A1:2008, Berichtigung zu DIN EN 61967-6:2008-10; (IEC-Cor. :2010 zu IEC 61967-6:2002)

Aufgrund der internationalen Berichtigung (IEC-Corrigendum August 2010 zu IEC 61967-6:2002) sind in der Norm folgende Korrekturen vorzunehmen - in Bild 3 ist das Fußmaß der Signalleitungsstruktur ...

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Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 8: Messung der abgestrahlten Aussendungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 61967-8:2023); Deutsche Fassung EN IEC 61967-8:2023

Norm [AKTUELL] 2024-10

DIN EN IEC 61967-8:2024-10; VDE 0847-21-8:2024-10

Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 8: Messung der abgestrahlten Aussendungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 61967-8:2023); Deutsche Fassung EN IEC 61967-8:2023

Mit diesem Messverfahren wird eine Methode zur Messung der abgestrahlten elektromagnetischen Aussendung von einer integrierten Schaltung (IC) mit einer IC-Streifenleitung festgelegt. Die zu ...

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Bibliotheken für die Entwurfsautomatisierung - Teil 1: Spezifikation von Eigenschaften von I/O-Buffern (IBIS Version 3.2) (IEC 62014-1:2001); Deutsche Fassung EN 62014-1:2002

Norm [AKTUELL] 2002-11

DIN EN 62014-1:2002-11

Bibliotheken für die Entwurfsautomatisierung - Teil 1: Spezifikation von Eigenschaften von I/O-Buffern (IBIS Version 3.2) (IEC 62014-1:2001); Deutsche Fassung EN 62014-1:2002

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Etiketten für Verpackungen elektronischer Bauelemente unter Anwendung von Strichcodierung und zweidimensionaler Symbologien (IEC 62090:2017); Deutsche Fassung EN 62090:2017

Norm [AKTUELL] 2017-12

DIN EN 62090:2017-12

Etiketten für Verpackungen elektronischer Bauelemente unter Anwendung von Strichcodierung und zweidimensionaler Symbologien (IEC 62090:2017); Deutsche Fassung EN 62090:2017

Diese Norm gilt für Etiketten auf Verpackungen elektronischer Bauelemente für die automatische Verarbeitung in B2B-Prozessen. Auf diesen Etiketten werden lineare Strichcodesymbole und ...

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Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe (IEC 62132-1:2015); Deutsche Fassung EN 62132-1:2016

Norm [AKTUELL] 2016-09

DIN EN 62132-1:2016-09; VDE 0847-22-1:2016-09

Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe (IEC 62132-1:2015); Deutsche Fassung EN 62132-1:2016

Die Messungen der eingespeisten Spannungen und Ströme - in Verbindung mit dem Antwortverhalten der unter geregelten Bedingungen geprüften integrierten Schaltungen (IC) - liefern für einen ...

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Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 62132-2:2010); Deutsche Fassung EN 62132-2:2011

Norm [AKTUELL] 2011-07

DIN EN 62132-2:2011-07; VDE 0847-22-2:2011-07

Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 62132-2:2010); Deutsche Fassung EN 62132-2:2011

Die vorliegende Internationale Norm legt ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit einer integrierten Schaltung (IC) gegen hochfrequente (HF) elektromagnetische Störstrahlung fest. Der ...

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Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 3: Stromeinspeisungs-(BCI-)Verfahren (IEC 62132-3:2007); Deutsche Fassung EN 62132-3:2007

Norm [AKTUELL] 2008-04

DIN EN 62132-3:2008-04

Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 3: Stromeinspeisungs-(BCI-)Verfahren (IEC 62132-3:2007); Deutsche Fassung EN 62132-3:2007

Die Norm beschreibt das Stromeinspeisungsmessverfahren (englisch: bulk current injection, BCI) zur Messung der Störfestigkeit von integrierten Schaltungen (IC) gegenüber leitungsgeführten ...

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Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 4: Verfahren direkter Einspeisung der HF-Leistung (IEC 62132-4:2006); Deutsche Fassung EN 62132-4:2006

Norm [AKTUELL] 2006-10

DIN EN 62132-4:2006-10

Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 4: Verfahren direkter Einspeisung der HF-Leistung (IEC 62132-4:2006); Deutsche Fassung EN 62132-4:2006

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Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 5: Verfahren mit Faradayschem Arbeitskäfig (IEC 62132-5:2005); Deutsche Fassung EN 62132-5:2006

Norm [AKTUELL] 2006-05

DIN EN 62132-5:2006-05

Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 5: Verfahren mit Faradayschem Arbeitskäfig (IEC 62132-5:2005); Deutsche Fassung EN 62132-5:2006

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Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 62132-8:2012); Deutsche Fassung EN 62132-8:2012

Norm [AKTUELL] 2013-03

DIN EN 62132-8:2013-03; VDE 0847-22-8:2013-03

Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - IC-Streifenleiterverfahren (IEC 62132-8:2012); Deutsche Fassung EN 62132-8:2012

Die IC-Streifenleitung bietet ein breitbandiges Messverfahren für die Störfestigkeit eines Prüflings gegen Felder, die innerhalb der IC-Streifenleitung erzeugt werden, oder auch für abgestrahlte ...

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Integrierte Schaltungen - Messung der Störfestigkeit gegen Impulse - Teil 3: Asynchrones Transienteneinspeisungs-Verfahren (IEC 62215-3:2013); Deutsche Fassung EN 62215-3:2013

Norm [AKTUELL] 2014-04

DIN EN 62215-3:2014-04; VDE 0847-23-3:2014-04

Integrierte Schaltungen - Messung der Störfestigkeit gegen Impulse - Teil 3: Asynchrones Transienteneinspeisungs-Verfahren (IEC 62215-3:2013); Deutsche Fassung EN 62215-3:2013

Integrierte Schaltungen werden in unserer durch informationstechnische Anwendungen geprägten Welt in allen Bereichen der Automatisierung eingesetzt. Sie werden dabei insbesondere in industrieller ...

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Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Festlegungen (IEC 62228-1:2018); Deutsche Fassung EN IEC 62228-1:2018

Norm [AKTUELL] 2018-12

DIN EN IEC 62228-1:2018-12; VDE 0847-28-1:2018-12

Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Festlegungen (IEC 62228-1:2018); Deutsche Fassung EN IEC 62228-1:2018

Die Bewertung der EMV-Eigenschaften von Sende-Empfangsgeräten muss bei anwendungsähnlichen Betriebsarten unter klar definierten Bedingungen erfolgen und umfasst Prüfungen der HF-Aussendung, der ...

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Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 2: LIN-Sende-Empfangsgeräte (IEC 62228-2:2016); Deutsche Fassung EN 62228-2:2017

Norm [AKTUELL] 2017-09

DIN EN 62228-2:2017-09; VDE 0847-28-2:2017-09

Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 2: LIN-Sende-Empfangsgeräte (IEC 62228-2:2016); Deutsche Fassung EN 62228-2:2017

Das Local Interconnect Network (LIN) ist ein standardisiertes Kommunikationsprotokoll und stellt eine wirtschaftliche Lösung für Netzwerke aus zum Beispiel elektronischen Regeleinrichtungen ...

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Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 3: CAN-Sende-Empfangsgeräte (IEC 62228-3:2019); Deutsche Fassung EN IEC 62228-3:2019

Norm [AKTUELL] 2020-02

DIN EN IEC 62228-3:2020-02; VDE 0847-28-3:2020-02

Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 3: CAN-Sende-Empfangsgeräte (IEC 62228-3:2019); Deutsche Fassung EN IEC 62228-3:2019

Das Controller Area Network (CAN) ist ein standardisiertes Kommunikationsprotokoll und stellt eine wirtschaftliche Lösung für Netzwerke, die vornehmlich in Automobilen eingesetzt werden, dar. Die ...

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Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 3: CAN-Sende-Empfangsgeräte (IEC 62228-3:2019/COR1:2023); Deutsche Fassung EN IEC 62228-3:2019/AC:2023-07

Norm [AKTUELL] 2024-01

DIN EN IEC 62228-3 Berichtigung 1:2024-01; VDE 0847-28-3 Berichtigung 1:2024-01

Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 3: CAN-Sende-Empfangsgeräte (IEC 62228-3:2019/COR1:2023); Deutsche Fassung EN IEC 62228-3:2019/AC:2023-07

Dieses Dokument berichtigt die Prüfschaltung für CAN-Sende-Empfangsgeräte für die ESD-Prüfung. Dabei wird auf die Prinzipdarstellung des Prüfstromlaufplans für direkte ESD-Prüfungen von ...

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Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 5: Ethernet-Sende-Empfangsgerät (IEC 62228-5:2021); Deutsche Fassung EN IEC 62228-5:2021

Norm [AKTUELL] 2023-09

DIN EN IEC 62228-5:2023-09; VDE 0847-28-5:2023-09

Integrierte Schaltungen - Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten - Teil 5: Ethernet-Sende-Empfangsgerät (IEC 62228-5:2021); Deutsche Fassung EN IEC 62228-5:2021

Dieser Teil von IEC 62228-5 legt Prüf- und Messverfahren für die Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) von integrierten Schaltungen für Ethernet-Sende-Empfangsgeräte unter ...

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Integrierte Schaltungen - EMV-Bewertung von Transceivern - Teil 6: PSI5-Transceiver (IEC 62228-6:2022); Deutsche Fassung EN IEC 62228-6:2022

Norm [AKTUELL] 2024-02

DIN EN IEC 62228-6:2024-02; VDE 0847-28-6:2024-02

Integrierte Schaltungen - EMV-Bewertung von Transceivern - Teil 6: PSI5-Transceiver (IEC 62228-6:2022); Deutsche Fassung EN IEC 62228-6:2022

Dieses Dokument legt Prüf- und Messverfahren für die Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) von integrierten Schaltungen (IC, englisch: integrated circuit) mit ...

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