Normung, Kommunikation, Dokumentation

99 Suchergebnisse

  • Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 1: Bewertungsverfahren für grundlegende Eigenschaften in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2943/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-1:2025

    Norm-Entwurf [VORBESTELLBAR] 2026-05

    DIN EN IEC 63550-1:2026-05; VDE 0884-3550-1:2026-05 - Entwurf

    Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 1: Bewertungsverfahren für grundlegende Eigenschaften in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2943/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-1:2025

    Dieser Teil von IEC 63550-1 legt die Prüfverfahren für die Bewertung der grundlegenden Eigenschaften von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die Prüfverfahren in diesem Dokument umfassen ...

    22,30 EUR inkl. MwSt.

    20,84 EUR exkl. MwSt.

    Zur Auswahl
  • Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 2: Bewertungsmethode für die Linearität in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2942/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-2:2025

    Norm-Entwurf [VORBESTELLBAR] 2026-05

    DIN EN IEC 63550-2:2026-05; VDE 0884-3550-2:2026-05 - Entwurf

    Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 2: Bewertungsmethode für die Linearität in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2942/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-2:2025

    Dieser Teil von IEC 63550-2 legt die Prüfverfahren für die Bewertung der Linearität von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die in diesem Dokument beschriebenen Prüfverfahren umfassen ...

    22,30 EUR inkl. MwSt.

    20,84 EUR exkl. MwSt.

    Zur Auswahl
  • Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 3: Bewertungsmethode für spikeabhängige Plastizität in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2941/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-3:2025

    Norm-Entwurf [VORBESTELLBAR] 2026-05

    DIN EN IEC 63550-3:2026-05; VDE 0884-3550-3:2026-05 - Entwurf

    Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 3: Bewertungsmethode für spikeabhängige Plastizität in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2941/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-3:2025

    Dieser Teil von IEC 63550-3 legt die Prüfverfahren für die Bewertung der spike-abhängigen Plastizität von neuromorphen Memristor-Bauelementen fest. Die in dieser Internationalen Norm beschriebenen ...

    24,38 EUR inkl. MwSt.

    22,79 EUR exkl. MwSt.

    Zur Auswahl
  • Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 4: Bewertungsmethode für Asymmetrien in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2940/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-4:2025

    Norm-Entwurf [VORBESTELLBAR] 2026-05

    DIN EN IEC 63550-4:2026-05; VDE 0884-3550-4:2026-05 - Entwurf

    Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 4: Bewertungsmethode für Asymmetrien in Memristor-Bauelementen (IEC 47/2940/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63550-4:2025

    Dieser Teil von IEC 63550-4 legt den Schwerpunkt auf die Beurteilung von Asymmetrieeigenschaften, die eine entscheidende Rolle bei der Handhabung von Memristoren mit unausgewogenem Schaltverhalten ...

    20,08 EUR inkl. MwSt.

    18,77 EUR exkl. MwSt.

    Zur Auswahl
  • w_173579437_covf.[SIZE].gif
    neu

    Norm [NEU] 2026-01-22

    ABNT NBR 16066:2026-01-22

    Internet based identifier (IBI) generation system

    ab 79,70 EUR inkl. MwSt.

    ab 74,49 EUR exkl. MwSt.

    Zur Auswahl
  • w_51569786_covf.[SIZE].gif

    Technische Regel [AKTUELL] 2022-10

    EIA JEP 160A:2022-10

    Long-Term Storage for Electronic Solid-State Wafers, Dice, and Devices

    Information

    Diesen Artikel bestellen wir extra für Sie, daher kann die Lieferung 1-2 Wochen in Anspruch nehmen.

    Preis auf Anfrage

    Zur Auswahl
  • w_51569786_covf.[SIZE].gif

    Technische Regel [AKTUELL] 2025-07

    EIA JEP 166F:2025-07

    JC-42.6 Manufacturer Identification (ID) Code for Low Power Memories

    Information

    Diesen Artikel bestellen wir extra für Sie, daher kann die Lieferung 1-2 Wochen in Anspruch nehmen.

    Preis auf Anfrage

    Zur Auswahl
  • w_51569786_covf.[SIZE].gif

    Technische Regel [AKTUELL] 2021-03

    EIA JEP 300-1:2021-03

    NEAR-TERM DRAM LEVEL ROWHAMMER MITIGATION

    Information

    Diesen Artikel bestellen wir extra für Sie, daher kann die Lieferung 1-2 Wochen in Anspruch nehmen.

    Preis auf Anfrage

    Zur Auswahl
  • w_51569786_covf.[SIZE].gif

    Norm [AKTUELL] 2011-10

    EIA JESD 79-3-2:2011-10

    1.25 V DDR3U-800, DDR3U-1066, DDR3U-1333, and DDR3U-1600

    Information

    Diesen Artikel bestellen wir extra für Sie, daher kann die Lieferung 1-2 Wochen in Anspruch nehmen.

    Preis auf Anfrage

    Zur Auswahl
  • w_51569786_covf.[SIZE].gif

    Norm [AKTUELL] 2021-02

    EIA JESD 79-4-1B:2021-02

    Addendum No. 1 to JESD79-4, 3D Stacked DRAM

    Information

    Diesen Artikel bestellen wir extra für Sie, daher kann die Lieferung 1-2 Wochen in Anspruch nehmen.

    Preis auf Anfrage

    Zur Auswahl
  • Achtung

    Mit dem Wechsel der Seite geht die aktuelle Auswahl verloren. Was möchten Sie tun?

    Auswahl verwerfen und die nächste Seite aufrufen