Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 17: Neutronenbestrahlung (IEC 60749-17:2003); Deutsche Fassung EN 60749-17:2003
Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2003); German version EN 60749-17:2003
Ausgabedatum
2003-09
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
7
Hinweis
Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen
DIN 41881-2:1978-06
empfohlen.
Ausgabedatum
2003-09
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
7
Hinweis
Dieses Dokument wird vom Herausgeber der ersatzlos zurückgezogenen
DIN 41881-2:1978-06
empfohlen.
Sollten Sie Verständnisprobleme zum Inhalt der Norm haben oder Hilfe bei der Anwendung benötigen, wenden Sie sich bitte an den - hier genannten - zuständigen Ansprechpartner im DIN.