Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung

Norm [AKTUELL]

NF C96-022-33:2005-12-01

NF EN 60749-33:2005-12-01

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung

Englischer Titel
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: accelerated moisture resistance - unbiased autoclave
Ausgabedatum
2005-12-01
Originalsprachen
Englisch, Französisch
Seiten
12

ab 75,60 EUR inkl. MwSt.

ab 70,65 EUR exkl. MwSt.

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2005-12-01
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12

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