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IEC 60749-27:2006-07

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM)

Englischer Titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Ausgabedatum: 2006-07
Originalsprachen: Englisch, Französisch
Seiten: 25

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