Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 49/1454/CDV) (englische Fassung)

Norm-Entwurf

OVE EN IEC 62276:2024-05-01 - Entwurf

Einkristall-Wafer für Oberflächenwellen-(OFW-)Bauelemente - Festlegungen und Messverfahren (IEC 49/1454/CDV) (englische Fassung)

Englischer Titel
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods (IEC 49/1454/CDV) (english version)
Ausgabedatum
2024-05-01
Originalsprachen
Englisch
Seiten
38

ab 28,04 EUR inkl. MwSt.

ab 26,21 EUR exkl. MwSt.

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2024-05-01
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38

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