Hochleistungskeramik - Verfahren zur Prüfung keramischer Schichten - Teil 1: Bestimmung der Schichtdicke mit einem Kontaktprofilometer; Deutsche Fassung ENV 1071-1:1993

Vornorm [ZURÜCKGEZOGEN]

DIN V ENV 1071-1:1993-11

Hochleistungskeramik - Verfahren zur Prüfung keramischer Schichten - Teil 1: Bestimmung der Schichtdicke mit einem Kontaktprofilometer; Deutsche Fassung ENV 1071-1:1993

Englischer Titel
Advanced technical ceramics; methods of test for ceramic coatings; part 1: determination of coating thickness by contact probe profilometer; German version ENV 1071-1:1993
Ausgabedatum
1993-11
Originalsprachen
Deutsch
Seiten
11
Verfahren
Vornorm

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ab 40,56 EUR exkl. MwSt.

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Deutsch
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