Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Verfahren zur Bestimmung von Grenzschichtpositionen in der Querschnittsaufnahme von mehrschichtigen Materialien

Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO 20263:2017-11

Mikrobereichsanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Verfahren zur Bestimmung von Grenzschichtpositionen in der Querschnittsaufnahme von mehrschichtigen Materialien

Englischer Titel
Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
Ausgabedatum
2017-11
Originalsprachen
Englisch
Seiten
45

ab 202,60 EUR inkl. MwSt.

ab 189,35 EUR exkl. MwSt.

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2017-11
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Englisch
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45

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Inhaltsverzeichnis

ICS

37.020, 71.040.50
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