Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Bestimmung der Atomkonzentration von Bor in Silizium unter Verwendung gleichmäßig dotierter Materialien

Norm [AKTUELL]

ISO 14237:2010-07

Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Bestimmung der Atomkonzentration von Bor in Silizium unter Verwendung gleichmäßig dotierter Materialien

Englischer Titel
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Ausgabedatum
2010-07
Originalsprachen
Englisch
Seiten
19

ab 151,10 EUR inkl. MwSt.

ab 141,21 EUR exkl. MwSt.

Format- und Sprachoptionen

PDF-Download

  • 151,10 EUR

  • 151,10 EUR

Versand (3-5 Werktage)

  • 170,80 EUR

  • 170,80 EUR

Mit dem Normenticker beobachten

Diese Option ist erst nach dem Login möglich.
Einfach Abo: Jetzt Zeit und Geld sparen!

Dieses Dokument können Sie auch abonnieren – zusammen mit anderen wichtigen Normen Ihrer Branche. Das macht die Arbeit leichter und rechnet sich schon nach kurzer Zeit.

Sparschwein_data
Abo Vorteile
Sparschwein Vorteil 1_data

Wichtige Normen Ihrer Branche, regelmäßig aktualisiert

Sparschwein Vorteil 2_data

Viel günstiger als im Einzelkauf

Sparschwein Vorteil 3_data

Praktische Funktionen: Filter, Versionsvergleich und mehr

Ausgabedatum
2010-07
Originalsprachen
Englisch
Seiten
19

Produktinformationen auf dieser Seite:

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Inhaltsverzeichnis

ICS

71.040.50
Ersatzvermerk

Dieses Dokument ersetzt ISO 14237:2000-02 .

Normen mitgestalten

Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...