Chemische Oberflächenanalyse - Augerelektronen-Spektroskopie und Röntgenphotoelektronen-Spektroskopie - Bestimmung der lateralen Auflösung (ISO 18516:2019); Text Englisch

Norm [AKTUELL]

DIN ISO 18516:2020-11

Chemische Oberflächenanalyse - Augerelektronen-Spektroskopie und Röntgenphotoelektronen-Spektroskopie - Bestimmung der lateralen Auflösung (ISO 18516:2019); Text Englisch

Englischer Titel
Surface chemical analysis - Determination of lateral resolution and sharpness in beam based methods with a range from nanometers to micrometers (ISO 18516:2019); Text in English
Ausgabedatum
2020-11
Originalsprachen
Englisch
Seiten
63

ab 150,80 EUR inkl. MwSt.

ab 140,93 EUR exkl. MwSt.

Format- und Sprachoptionen

PDF-Download
  • 150,80 EUR

Versand (3-5 Werktage)
  • 187,70 EUR

Mit dem Normenticker beobachten

Diese Option ist erst nach dem Login möglich.
Einfach Abo: Jetzt Zeit und Geld sparen!

Dieses Dokument können Sie auch abonnieren – zusammen mit anderen wichtigen Normen Ihrer Branche. Das macht die Arbeit leichter und rechnet sich schon nach kurzer Zeit.

Sparschwein_data
Abo Vorteile
Sparschwein Vorteil 1_data

Wichtige Normen Ihrer Branche, regelmäßig aktualisiert

Sparschwein Vorteil 2_data

Viel günstiger als im Einzelkauf

Sparschwein Vorteil 3_data

Praktische Funktionen: Filter, Versionsvergleich und mehr

Ausgabedatum
2020-11
Originalsprachen
Englisch
Seiten
63
DOI
https://dx.doi.org/10.31030/3173554

Schnelle Zustellung per Download oder Versand

Sicherer Kauf mit Kreditkarte oder auf Rechnung

Jederzeit verschlüsselte Datenübertragung

Einführungsbeitrag

Diese Internationale Norm beschreibt Verfahren zur Messung der lateralen Auflösung und Schärfe bei bildgebender chemischer Oberflächenanalyse. Das zuständige nationale Gremium ist der Arbeitsausschuss NA 062-08-16 AA "Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP).

Inhaltsverzeichnis

ICS

71.040.40

DOI

https://dx.doi.org/10.31030/3173554

Normen mitgestalten

Lade Empfehlungen...
Lade Empfehlungen...