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Dieser Teil der Normenreihe ISO 18115 legt Begriffe für die chemische Oberflächenanalyse fest. Er befasst sich mit allgemeinen Begriffen und solchen, die in der Spektroskopie verwendet werden, während ISO 18115-2 sich mit Begriffen aus der Rastersondenmikroskopie befasst und ISO 18115-3 Begriffe behandelt, die bei der optischen Grenzflächenanalyse verwendet werden. Dieses Dokument enthält die deutsche Übersetzung der Internationalen Norm ISO 18115-1:2023, die vom Technischen Komitee ISO/TC 201 "Chemical surface analysis" erarbeitet wurde, dessen Sekretariat von JISC (Japan) gehalten wird. Das zuständige nationale Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 062-08-16 AA "Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP).
Gegenüber DIN ISO 18115-1:2017-07 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Überarbeitung der Definitionen in Zusammenhang mit der Auflösung; b) Einführung von Definitionen in Zusammenhang mit der Atomsonden-Tomographie; c) Einführung von neuen Verfahren, wie z. B. HAXPES, NAPXPS, GEXRF; d) Streichung von wiederholten oder redundanten Definitionen und Verweisungen; e) Neuordnung der Terminologie in themenspezifische Abschnitte; f) Streichung von Anhängen entsprechend den Anforderungen von ISO; g) Hinzufügung eines Stichwortverzeichnisses.